Fluoresensi sinar-X
Floresensi sinar X (x-ray flourescence, XRF) adalah fluoresensi (emisi karakteristik sekunder) sinar-X dari bahan yang tereksitasi karena dibombardir dengan sinar X berenergi tinggi atau sinar gamma. Fenomena ini banyak dimanfaatkan untuk analisis unsur dan kimia analisis, terutama dalam menneliti logam, kaca, keramik dan bahan bangunan, dan dalam geokimia, ilmu forensik, arkeologi dan benda-benda seni[1] seperti lukisan[2] dan mural.
Bombardir dengan sinar-X berenergi tinggi dan sinar gamma mengeksitasi elektron-elektron dari unsur yang diselidiki. Ketika elektron-elektron ini kembali ke keadaan dasar, sinar X-ray akan dipancarkan dengan energi tertentu.[3] Besar energi ini berbeda-beda tergantung unsur, sehingga dengan mendeteksi pancaran sinar X ini, peneliti dapat mengetahui unsur dalam suatu bahan.[4]
Berikut adalah beberapa komponen utama dari XRF Spectrometers:
- Tabung Sinar-X (X-ray Tube): Tabung sinar-X merupakan sumber sinar-X dalam XRF Spectrometers. Tabung ini menggunakan tegangan tinggi untuk menghasilkan sinar-X yang kemudian diarahkan ke sampel yang akan dianalisis. Sinar-X ini bertanggung jawab untuk merangsang atom dalam sampel sehingga mereka menghasilkan fluoresensi.
- Detektor (Detector): Detektor adalah komponen yang mendeteksi dan mengukur radiasi fluoresensi yang dihasilkan oleh sampel setelah terpapar sinar-X. Detektor ini menerima fluoresensi yang dihasilkan oleh sampel dan mengonversi energi fluoresensi menjadi sinyal listrik yang dapat diukur dan dianalisis lebih lanjut.
- Kolimator (Collimator): Kolimator digunakan untuk mengarahkan sinar-X yang dihasilkan oleh tabung sinar-X ke sampel dengan presisi. Hal ini membantu untuk memastikan bahwa hanya sampel yang diinginkan yang terpapar sinar-X, sehingga mengurangi interferensi dari sumber lain dan meningkatkan akurasi analisis.
- Sistem Pengolahan Data (Data Processing System): Sistem pengolahan data terdiri dari perangkat lunak dan perangkat keras yang digunakan untuk menganalisis data yang diperoleh dari detektor. Perangkat lunak ini digunakan untuk menginterpretasi pola fluoresensi yang dihasilkan oleh sampel dan mengidentifikasi unsur-unsur yang hadir dalam sampel tersebut. Sistem ini juga digunakan untuk mengolah dan menyajikan data analisis kepada pengguna.
- Sistem Kontrol (Control System): Sistem kontrol digunakan untuk mengontrol operasi XRF Spectrometers secara keseluruhan. Ini mencakup pengaturan parameter seperti tegangan dan arus tabung sinar-X, pengaturan detektor, dan pengaturan kolimator. Sistem kontrol juga dapat mengelola proses kalibrasi dan mengatur prosedur analisis.
- Sampel Holder (Sampel Holder): Sampel holder adalah bagian dari alat yang digunakan untuk menempatkan sampel yang akan dianalisis. Sampel holder biasanya dirancang untuk memungkinkan pengguna memasukkan dan mengganti sampel dengan mudah dan memberikan posisi yang stabil dan terkontrol selama analisis.
- Pemantauan Suhu (Temperature Monitoring): Beberapa XRF Spectrometers dilengkapi dengan sistem pemantauan suhu yang memantau suhu tabung sinar-X dan detektor. Pemantauan suhu ini penting untuk memastikan konsistensi performa alat dan untuk mencegah overheating yang dapat merusak komponen alat.
Dengan kerjasama komponen-komponen ini, XRF Spectrometers dapat memberikan analisis yang cepat, akurat, dan dapat diandalkan terhadap komposisi unsur-unsur dalam berbagai jenis sampel.[5]
Catatan
- ^ De Viguerie L, Sole VA, Walter P, Multilayers quantitative X-ray fluorescence analysis applied to easel paintings Diarsipkan 2015-12-23 di Wayback Machine., Anal Bioanal Chem. 2009 Dec; 395(7): 2015-20. DOI:10.1007/s00216-009-2997-0
- ^ "X-Ray Fluorescence at ColourLex". Diarsipkan dari versi asli tanggal 2015-12-22. Diakses tanggal 2018-12-29.
- ^ Ronald Gautreau; William Savin (17 August 1999). Schaum's Outline of Modern Physics. Erlangga. hlm. 135. ISBN 978-979-781-824-1. Diarsipkan dari versi asli tanggal 2023-07-22. Diakses tanggal 2018-12-29.
- ^ Karl Wirth, Macalester College dan Andy Barth. X-Ray Fluorescence (XRF) Diarsipkan 2023-06-06 di Wayback Machine.. Carleton College.
- ^ Media, Warstek (2024-04-01). "Memahami XRF (X-ray fluorescence) Spectrometers: Prinsip Kerja, Komponen, sFungsi, dan Aplikasi". Warung Sains Teknologi. Diakses tanggal 2024-08-30.